sizif

Predstavljanje projekta SIZIF

08/07/2016

Predstavljanje projekta SIZIF

Iva Šarić, Ivna Kavre Piltaver, Robert Peter i Mladen Petravić
Centar za mikro i nanoznanosti i tehnologije, Sveučilište u Rijeci

 

Predstavljanje projekta SIZIF održat će se na Prirodoslovno-matematičkom fakultetu u Splituu, Ruđera Boškovića 33 (Kampus) u amfiteatru A 1-1, u utorak, 12. srpnja 2016. s početkom u 11 sati.

 

Centru za mikro i nanoznanosti i tehnologije Sveučilišta u Rijeci odobren je projekt Stjecanje Istraživačke i Znanstvene Izvrsnosti u Funkcionalizaciji biomedicinskih materijala (SIZIF) u sklopu Europskog socijalnog fonda i programa Istraživačke stipendije za profesionalni razvoj mladih istraživača i poslijedoktoranada. Cilj projekta SIZIF je jačanje eksperimentalne i znanstvene izvrsnosti, te međunarodnog umrežavanja mladih znanstvenika kroz relevantno i konkurentno znanstveno istraživanje. U sklopu projekta se troje poslijedoktoranada osposobljava za samostalnu provedbu istraživanja vezanog uz primjenu nanoznanosti na funkcionalizaciju biomedicinskih materijala, uz uporabu sofisticiranih tehnika za narastanje, modifikaciju i analizu uzoraka, dobivenih u sklopu EU projekta RISK.

Među opremom koja se koristi u projektu SIZIF je i nekoliko kapitalnih istraživačkih instrumenata jedinstvenih ne samo u Hrvatskoj već i u ovom dijelu Europe. Istraživači uključeni u projekt predstavit će znanstvenu komponentu istraživanja i novu opremu koju koriste.

  1. a) SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometer, Maseni spektrometar sekundarnih iona), tehniku za elementnu analizu i mjerenje ultraniskih koncentracija primjesa i nečistoća u različitim materijalima s posebno značajnom primjenom u fizici poluvodiča i poluvodičkoj tehnologiji;
  2. b) ALD (Atomic Layer Deposition, Depozicija atomskih slojeva), tehnika za narastanje tankih filmova superiornih karakteristika s primjenama u poluvodičkoj industriji, medicini, konverziji sunčeve energije, pohranjivanju energije, antikorozivnoj zaštiti i sl.;
  3. c) SEM (Scanning Electron Microscope, Pretražni elektronski mikroskop), uređaj za strukturnu analizu uzoraka, s velikim povećanjem i rezolucijom od 0,7 nm. Uz SEM dobivamo i jedinstvenu grupu naprednih tehnika za pripremu uzoraka.

 

logici